Microscopio metalográfico JX40M usado para la detección de oblea de silicio
Microscopio metalográfico JX40M usado para la detección de oblea de silicio
Microscopio metalográfico JX40M usado para la detección de oblea de silicio
Microscopio metalográfico JX40M usado para la detección de oblea de silicio

Microscopio metalográfico JX40M usado para la detección de oblea de silicio

(5.0)
€ 2,540.00
In Stock
FREE SHIPPING WORLDWIDE

Baratos y descuentos Microscopio metalográfico JX40M usado para la detección de oblea de silicio al por mayor. Compre directamente del comerciante PDVCN Store. ¡Disfruta de ✓Envío gratuito a todo el mundo! ✓ 90 días de protección al comprador. ✓Regreso fácil. ✓ Garantía de devolución de dinero.

Recommends

Carga Electrónica
€ 57.04
(5.0)